



GESHINE UV-DOAS 공정용 염소 가스 분석기
클로르알칼리 및 화학 플랜트의 공정 연속 모니터링용 UV-DOAS 염소 가스 분석기
- 측정 원리
- UV-DOAS(차등 광흡수)
- 측정 범위
- 견적 시 설정 및 확정
- 정확도
- 선택한 측정 범위와 시료 매트릭스에 따라 확정
- 출력
- 프로젝트별 I/O 패키지 구성
개요
이 UV-DOAS 염소 가스 분석기는 클로르알칼리 생산, 수처리 및 화학 공정에서 기상 Cl₂를 연속 측정하도록 구성됩니다. 측정 범위, 응답 특성, 접액부 재질, 외함 및 I/O는 용도에 맞춰 선정하고 프로젝트 견적에서 확정합니다.
- UV-DOAS 측정 셀 구조
- 광학 모델에서 습도 및 온도 보정
- 기준 스펙트럼 자동 보정
- 부식 방지 접액부(염소 및 산성 가스 용도에 맞춰 프로젝트별 구성)
- 습식 굴뚝 또는 산성 가스 용도에 맞춰 선정하는 추출식 시료 가스 전처리
- 용도별 시료 매트릭스를 검토해 기상 Cl₂ 구성
전체 기술 사양
주요 성능
| 지표 | 값 | 상태 |
|---|---|---|
| 측정 원리 | UV-DOAS(차등 광흡수 분광법) | 확정 |
| 측정 범위 | 견적 시 설정 및 확정 | 견적 시 확정 |
| 정확도 | 선택한 측정 범위와 가스 매트릭스에 따라 확정 | 견적 시 확정 |
| 응답 특성 | 광경로 및 시료 구성에 따라 확정 | 견적 시 확정 |
| 출력 | 제어 시스템에 맞춰 아날로그 및 디지털 I/O 구성 | 견적 시 확정 |
사양
| 항목 | 값 |
|---|---|
| 측정 원리 | UV-DOAS(차등 광흡수 분광법) |
| 측정 대상 성분 | 기상 Cl₂ |
| 측정 범위 | 견적 시 설정 및 확정 |
| 정확도 | 선택한 측정 범위와 가스 매트릭스에 따라 확정 |
| 응답 특성 | 광경로 및 시료 구성에 따라 확정 |
| 접액부 재질 | 염소 및 산성 가스 접촉 조건에 맞춰 선정하고 견적 시 확정 |
| 출력 | 제어 시스템에 맞춰 아날로그 및 디지털 I/O 구성 |
설치 환경
이 모델을 검토하는 일반적인 공정 환경입니다.
| 표준 | 범위 | 구성 | 상태 | 문서 |
|---|---|---|---|---|
| 폭발위험장소 / 기능 안전 | 적용 승인은 공급되는 외함, 설치 구역 및 안전성 검토 자료를 기준으로 확정합니다. | 프로젝트별 구성 | 프로젝트별 확정 | 요청 시 제공 |
문서 요청
이 모델의 기술 데이터시트, 사용자 설명서, 인증서 및 적용 기술 자료를 요청하세요.
근거 자료
기상 UV-DOAS 염소 측정 구조
적용 분야에는 클로르알칼리, 화학물질 저장, 펄프 및 제지, 수처리 공정의 기상 주입이 포함됩니다. 이 가스 분석기 구성은 UV-DOAS, 프로젝트별로 구성하는 부식 방지 접액부, 기준 스펙트럼 보정 및 습식 또는 산성 가스 시료 매트릭스에 사용하는 추출식 시료 가스 전처리를 적용합니다.
01 측정 원리 및 한계
측정 한계의 결정 방식
UV-DOAS는 차등 스펙트럼 처리를 통해 기상 Cl2의 흡수를 측정하여 공정을 연속 모니터링합니다.
필요 조건
- 염소 및 산성 가스 접촉에 적합한 부식 방지 접액부(프로젝트별 구성)
- 변화하는 UV 배경에 대응하는 기준 스펙트럼 보정
- 습식 굴뚝 또는 산성 가스 용도에 맞춰 선정하는 추출식 시료 가스 전처리
간섭 성분 및 한계
- SO2, HCl 및 HF의 스펙트럼 중첩에는 시료 매트릭스별 보정이 필요할 수 있습니다
- 습식 굴뚝 시료 경로의 에어로졸 또는 응축은 광학 기준 신호를 바꿀 수 있습니다
- 물속 유리 잔류 염소 또는 총 잔류 염소 측정은 별도의 수계 측정 방식이며, 이 기상 가스 분석기로 측정하지 않습니다
- 가열 또는 부식 방지 시료 가스 전처리 없이 습식 굴뚝 가스를 측정하는 경우
- UV-DOAS 시료 매트릭스 검토 없이 SO2, HCl 또는 HF 배경 농도가 높은 경우
02 운전 범위
이 한계값을 제품 선정 기준으로 활용한 다음, 견적 전에 시료 상태, 주변 환경 노출 및 재질을 확인하세요.
- Cl2
- SO2/HCl/HF 스펙트럼 중첩 시료 매트릭스 검토
- 수용액 내 잔류 염소 분석
- 적합한 가열식 시료 가스 전처리 없이 습식 굴뚝 또는 응축 조건에서 운전하는 경우
- 용도 검토 없이 UV 흡수성이 강한 산성 가스가 포함된 시료 매트릭스를 측정하는 경우
03 시료 시스템 경계
시료 채취 방식, 전처리 구성품 및 제외 항목에 따라 가스 분석기의 책임 범위와 시료 시스템의 시작점이 정해집니다.
- UV-DOAS 측정 셀
- 기준 스펙트럼 보정
- 부식 방지 접액 경로(프로젝트별 구성)
- 추출식 시료 가스 전처리
- 수용액 시료 패널은 이 기상 가스 분석기의 범위에 포함되지 않습니다
04 유지보수 및 예비품 사업장별 상이
이 가스 분석기의 정기 점검 작업, 소모품 및 접근 요건입니다. 정확한 주기는 사업장별로 다릅니다.
- 산성 가스 용도에 맞춰 UV 광경로와 부식 방지 접액부를 점검합니다
- Cl2, SO2, HCl 또는 HF 시료 매트릭스가 바뀌면 기준 스펙트럼 보정을 검토합니다
- 습식 굴뚝 측정 전에 가열식 또는 냉각 건조식 시료 가스 전처리 구성을 확인합니다
- 추출식 구성에 적용되는 시료 라인 필터 또는 전처리 부품
자주 묻는 질문
이 가스 분석기는 무엇을 어떻게 측정하나요?
이 가스 분석기는 UV 차등 광흡수 분광법(UV-DOAS)과 차등 스펙트럼 처리를 사용해 기상 Cl₂를 측정하며 공정을 연속 모니터링합니다. 측정 범위, 정확도, 응답 특성 및 시료 처리 방식은 용도에 맞춰 구성하고 프로젝트 견적에서 확정합니다.
이 가스 분석기는 부식성 염소 및 산성 가스 환경에 어떻게 대응하나요?
염소 및 산성 가스 접촉 조건에 맞는 부식 방지 접액부를 사용하며, 최종 재질 구성은 견적 시 확정합니다. 운전 범위는 Cl₂와 SO₂/HCl/HF 스펙트럼 중첩 시료 매트릭스 검토를 포함합니다. UV 흡수성이 강한 산성 가스가 포함된 시료 매트릭스는 적용 전에 검토해야 합니다.
Cl₂ 측정을 간섭할 수 있는 가스는 무엇인가요?
SO2, HCl 및 HF의 스펙트럼 중첩에는 시료 매트릭스별 보정이 필요할 수 있습니다. 습식 굴뚝 시료 경로의 에어로졸 또는 응축은 광학 기준 신호를 바꿀 수 있으며, SO2, HCl 또는 HF 배경 농도가 높으면 UV-DOAS 시료 매트릭스 검토가 필요합니다.
이 가스 분석기에는 어떤 시료 가스 전처리가 필요한가요?
기준 스펙트럼 보정과 프로젝트별 부식 방지 접액 경로를 갖춘 추출식 구성으로 운전합니다. 습식 굴뚝 또는 산성 가스 용도에는 추출식 시료 가스 전처리를 선정합니다. 호환 가능한 전처리 시스템은 ZS-SCS-600 냉각 건조식 시료 채취 시스템과 ZS-SCS-800 고온 가열식 시료 채취 시스템입니다. 수용액 시료 패널은 이 기상 가스 분석기의 범위에 포함되지 않습니다.
이 가스 분석기로 물속 잔류 염소를 측정할 수 있나요?
아니요. 이 제품은 기상 Cl₂ 가스 분석기입니다. 물속 유리 잔류 염소 또는 총 잔류 염소 측정은 별도의 수계 측정 방식이며, 이 가스 분석기로 측정하지 않습니다.
이 가스 분석기에는 어떤 승인이 적용되나요?
적용 승인, 폭발위험장소 범위 및 기능 안전 문서는 엔지니어링 검토 중 공급되는 외함, 설치 구역 및 안전성 검토 자료를 기준으로 확인합니다.
사업장 조건에 맞춰 UV-DOAS 염소 측정 구성을 검토하세요.
최종 모델을 선정하기 전에 가스 측정 범위, 시료 온도, 압력, 수분 및 인증 요건을 알려주세요.