산업용 시리즈: ZS8100-HF

ZS8100-HF 공정용 불화수소 가스 분석기

알루미늄 제련소 FTC/GTC, HF 알킬화, 반도체 산 에칭, 유리 에칭 및 EU BAT ≤1 mg/m³ 기준의 소각 CEMS용 TDLAS 다이오드 레이저 불화수소 가스 분석기

측정 범위
0–10 / 0–50 / 0–500 ppm
정확도
±2 % FS 또는 ±0.1 ppm
응답(T90)
<10 s
접액부 재질
Monel 400 / PTFE / PFA
제품 개요

개요

ZS8100-HF는 저 ppm 농도의 부식성 가스와 이슬점에 민감한 환경을 위한 추출식 TDLAS 불화수소 가스 분석기입니다. 일차 알루미늄 제련소의 흄 처리 센터 / 가스 처리 센터 비산 배출 모니터링, 정유 공장의 HF 알킬화 촉매 추적 및 주변 누출 대응, 반도체 산 에칭 배기 및 세정기 입구 측정, 광학 유리 / 디스플레이 유리 에칭 산 농도 제어, EU BAT 상한 1 mg/m³ 기준의 소각 CEMS, 불소화학물질 / 냉매 플랜트 공정에 사용됩니다. HF 기본 진동 대역의 좁은 선폭 근적외선 다이오드 레이저는 흡수선 선택과 시료 매트릭스 검토를 통해 H₂O / CO₂ / SO₂ / HCl 배경 신호에서 HF 신호를 분리합니다. 측정 경로에는 HF 부식에 견디고 벽면 흡착을 줄이는 Monel 400 접액부와 내부 PTFE / PFA 튜브를 사용합니다.

주요 특징
  • 시약이 필요 없는 광학 셀을 사용하는 TDLAS 단일 흡수선 레이저 방식이며, 가열 시료 경로는 유지보수 대상입니다.
  • 시료 매트릭스 검토 후 레이저 흡수선 선택으로 H₂O / CO₂ / SO₂ / HCl 스펙트럼 배경에서 HF 신호를 분리합니다.
  • HF 부식에 대응하고 저농도 ppm에서 흡착을 줄이도록 Monel 400 접액부와 PTFE / PFA 내부 튜브를 적용합니다.
  • 다중 측정 범위 펌웨어로 제련소 FTC/GTC의 비산 ppm부터 CEMS(EU BAT ≤1 mg/m³) 및 공정 측정까지 지원합니다.

전체 기술 사양

주요 성능

ZS8100-HF 주요 성능 지표
지표 값 상태
측정 범위 0–10 / 0–50 / 0–500ppm(다중 측정 범위) 조건부*
정확도 ±2 % FS 또는 ±0.1ppm(둘 중 큰 값 적용) 조건부*
응답(T90) <10 s 조건부*
검출 한계 <0.05ppm(비산 모니터링에 유용) 조건부*

* TDLAS HF의 업계 일반값으로 목표 범위를 나타냅니다. 확정값은 견적 시 최종 데이터시트로 제공합니다.

측정

ZS8100-HF 측정 사양
사양값
측정 원리TDLAS(가변 파장 다이오드 레이저 흡수 분광법)
목표 파장근적외선 ≈ 1.27 μm(HF 기본 흡수선 / 배음 영역)
측정 범위0–10 ppm / 0–50 ppm / 0–500 ppm(다중 측정 범위)
최저 검출 한계<0.05 ppm(비산 모니터링에 유용, 제련소 FTC/GTC 범위)
정확도±2 % FS 또는 ±0.1 ppm(둘 중 큰 값 적용)
반복성≤1 % FS
응답 시간(T90)<10 s
시료 매트릭스 분리레이저 흡수선 선택과 애플리케이션별 시료 매트릭스 검토로 H₂O / CO₂ / SO₂ / HCl 영향을 처리합니다.

시료 시스템

ZS8100-HF 시료 시스템 사양
사양값
시료 채취 방식가열 시료 채취 프로브와 가열 시료 라인을 사용하는 추출식(불화수소 이슬점보다 높은 온도 유지)
접액부 재질시료 경로에는 Monel 400을, 내부 튜브에는 PTFE / PFA를 사용합니다. HF 접촉면에는 몰리브덴 함유 합금을 사용하지 않습니다.
시료 온도최대 180 °C(가열 라인, 적용 조건에 따라 다름)
시료 압력-30~+500 mbar g
권장 전처리ZS-SCS-800 가열 시료 채취 시스템(프로젝트별 적용, 저농도 ppm 비산 측정에는 HF 전용 Monel / PFA 라이닝 시료 라인 권장)
장거리 경로 대안추출식 시료 채취가 현실적이지 않은 굴뚝 구조에는 장거리 경로 UV-DOAS 가스 분석기를 사용할 수 있습니다.

환경

ZS8100-HF 환경 사양
사양값
작동 온도-20 °C~+50 °C
보관 온도-40 °C~+70 °C
습도0–95 % RH(비응축)
방진·방수 등급IP65(표준) / IP66(현장 외함)

전기

ZS8100-HF 전기 사양
사양값
전원 공급100–240 VAC, 50/60 Hz, 최대 100 W(가열 라인 전원 별도)
아날로그 출력2 × 4–20 mA(절연형, 설정 가능)
디지털 출력RS-485 Modbus RTU / HART 7(옵션)
릴레이 출력4 × SPDT(경보, 고장, 유지보수, 측정 범위)
디스플레이현장 터치스크린 HMI가 장착된 5″ 컬러 TFT

외형

ZS8100-HF 외형 사양
사양값
치수(W×H×D)483 × 177 × 420 mm(19″ 랙) / 현장 외함 옵션
중량≈16 kg(랙) / ≈34 kg(현장 외함)
하우징 재질분체 도장 알루미늄 외함, Monel 400 접액부 및 시료 경로의 PTFE / PFA 튜브
설치 방식19″ 랙(4U) / 벽면 설치 / 현장 외함

인증

ZS8100-HF 인증 사양
사양값
CE 마킹EU 장비 지침 준수(표준)
폭발위험장소ATEX / IECEx — 적용 조건부(프로젝트별 확인)
CEMS 형식 승인MCERTS(영국) / US EPA HF CEMS 기준 시험방법 — 목표 범위, 프로젝트별 확인
전자파 적합성EN 61326-1
품질 시스템ISO 9001:2015에 따라 제조
적용 표준EU IED BAT(소각 HF ≤1 mg/m³); OSHA PEL 3 ppm 8시간 TWA(알루미늄 FTC/GTC); US EPA Method 13A/B / 320(HF CEMS 기준)

이 가스 분석기의 적용 분야

이 모델이 적용되는 산업 분야와 공정 조건은 다음과 같습니다.

알루미늄 제련소 FTC/GTC
HF 알킬화
반도체 에칭
불소화학물질

설치 환경

이 모델의 적용성을 검토하는 일반적인 공정 환경입니다.

일차 알루미늄 제련소 FTC/GTC 비산 HF 모니터링
정유 공장 HF 알킬화 촉매 추적 및 누출 대응
반도체 산 에칭 배기 및 스크러버 입구 모니터링
EU BAT 기준(≤1 mg/m³ HF)의 소각 CEMS

인증 범위

표준은 적용 범위와 상태를 함께 표시하여 엔지니어링 검토 시 접액부 재질, 규제 시험방법 및 폭발위험장소 조건을 확인할 수 있도록 했습니다. 성능 및 CEMS 승인은 목표 범위로 표시합니다. 구성에 따른 현재 인증 상태는 견적 시 확인하며, 폭발위험장소 적용은 기본 카탈로그 사양이 아니라 엔지니어링 검토가 필요한 조건부 항목으로 관리합니다.

ZS8100-HF 인증 범위 매트릭스
표준 범위 제품 형식 상태 문서
CE(EU 적합성 선언) EU 장비 지침 준수(표준) 프로젝트별 형식 목표 요청 시 제공
MCERTS / HF CEMS 기준 시험방법 MCERTS(영국) / US EPA HF CEMS 기준 시험방법 — 목표 범위입니다. 현재 인증 상태, 인증서 번호 및 유효 기간은 견적 시 확인해야 합니다. 프로젝트별 형식 목표 요청 시 제공
ATEX / IECEx 폭발위험장소 엔지니어링 검토 범위이며 프로젝트별로 확인합니다. 프로젝트별 형식 조건부 요청 시 제공
ISO 9001:2015 품질경영시스템 — ISO 9001:2015에 따라 제조 프로젝트별 형식 승인 요청 시 제공
CE 부식성 공정용 접액부 MCERTS / CEMS(심사 중)

문서 요청

이 모델의 기술 데이터시트, 사용자 매뉴얼, 인증서 및 적용 기술 자료를 요청하세요.

근거 자료

사례 연구

HF 부식성 공정용 시료 채취 구조

알루미늄 제련, HF 알킬화, 반도체 에칭 및 소각 공정에서는 TDLAS 흡수선 선택에 Monel / PTFE / PFA 접액부와 가열 시료 채취를 결합합니다. 따라서 차가운 범용 시료 라인에 의존하지 않고 HF를 광학 측정 셀까지 전달할 수 있습니다.

기술 및 엔지니어링 세부 정보

기술 및 엔지니어링 세부 정보

측정, 작동 조건, 시료 시스템, 교정, 통합, 유지보수 및 적용 근거를 자세히 보려면 각 항목을 펼치세요.

01 측정 원리 및 한계

측정 범위를 결정하는 요소

TDLAS는 근적외선 영역의 좁은 HF 흡수선을 사용해 부식성 굴뚝 및 공정에서 저농도 ppm 불화수소를 추출식으로 측정합니다.

적용하지 않는 방식

  • 공정/CEMS 기본 방식으로 전기화학식 HF 안전 경보기를 적용하는 방식
  • 습식 산성 가스 시료 매트릭스에 저가형 NDIR을 적용하는 방식
  • 검토 없이 장거리 경로 UV-DOAS로 대체하는 방식

필수 조건

  • HF 이슬점보다 높은 온도를 유지하는 가열 추출식 시료 경로
  • Monel 400 접액 금속부와 PTFE / PFA 내부 튜브
  • H₂O / CO₂ / SO₂ / HCl 배경을 고려한 HF 전용 시료 매트릭스 검토
  • 굴뚝 측정에 필요한 경우 ZS-SCS-800 또는 동급의 가열 부식성 가스 시료 채취 시스템

간섭 물질 및 한계

  • H₂O 배경 신호
  • CO₂ 및 SO₂ 스펙트럼 배경 신호
  • 혼합 산성 가스 공정에서의 HCl 중첩
  • 부적합한 접액부 재질에서 발생하는 HF 벽면 흡착
02 작동 조건 범위

이 한계를 장비 선정 기준으로 삼고, 견적 전 시료 조건, 주변 환경 및 재질을 확인하세요.

시료 온도
최대 180 C
가열 시료 라인의 최대 온도이며 프로젝트별로 다릅니다.
주변 온도
-20-50 C
접액부 재질
Monel 400, PTFE, PFA
적용 범위 외 조건
  • 가열 시료 경로가 없는 HF 응축 공정
  • HF 접촉면의 몰리브덴 함유 합금
  • 검토되지 않은 반도체 ppb 수준 감사 측정
03 시료 시스템 범위

시료 채취 방식, 전처리 구성품 및 제외 항목에 따라 가스 분석기의 책임 범위와 시료 시스템의 시작점이 정해집니다.

시료 채취 방식
추출식
경계 구성품
  • 가열 시료 채취 프로브
  • HF 이슬점보다 높은 온도를 유지하는 가열 시료 라인
  • Monel 400 시료 경로
  • PTFE / PFA 내부 튜브
  • ZS-SCS-800 가열 시료 채취 시스템
범위 제외 항목
  • 가스 분석기 측정 셀에 도달하기 전에 HF를 흡수하는 냉각 건식 전처리
  • 저농도 ppm HF 측정에 사용하는 비라이닝 범용 스테인리스 시료 경로
04 교정 및 검증

이 가스 분석기의 교정 방법, 주기, 추적성 및 감사 지원 정보입니다.

제로 / 스팬 방식

애플리케이션별 시료 매트릭스 검토를 포함하는 프로젝트별 HF 제로/스팬 방식

주기

현장별 설정

기준 시험방법

US EPA Method 13A / 13B 기준 시험방법 관련 정보; US EPA Method 320 추출식 FTIR 관련 정보

스팬 가스 추적성

프로젝트별 교정 가스 또는 검증 매체

감사 지원

  • US EPA Method 13A / 13B 기준 시험방법 관련 정보
  • US EPA Method 320 추출식 FTIR 관련 정보
  • EU IED BAT HF 보고 검토
05 I/O 및 시스템 통합

제어 시스템 통합을 위한 신호 출력 및 통신 인터페이스입니다.

출력

4–20 mA / RS-485 Modbus / HART 통신

아날로그 출력

2 × 4–20 mA(절연형, 설정 가능)

디지털 출력

RS-485 Modbus RTU / HART 7(옵션)

릴레이 출력

4 × SPDT(경보, 고장, 유지보수, 측정 범위)

DAHS 검토 참고 사항

프로젝트 통합 검토 중 프로토콜 맵, 측정 채널 이름, 경보 상태 및 보고 형식을 확인하세요.

06 유지보수 및 예비품 현장별 설정

이 가스 분석기의 정기 서비스 작업, 소모품 및 접근 요건입니다. 구체적인 주기는 현장별로 다릅니다.

서비스 작업
  • 가열 시료 라인 점검
  • Monel / PTFE / PFA 접액 경로 상태 확인
  • HF 제로/스팬 설정 확인
  • 산성 가스 응축 위험 검토
소모품
  • HF 호환 필터
  • 가열 라인 서비스 부품
  • 프로젝트별 교정 가스 또는 검증 매체
07 적용 근거

복잡한 산업 환경의 적용 사례입니다.

사례 연구 일차 알루미늄 제련 — FTC/GTC 비산 배출 모니터링

적용 배경

400 kA급 포트라인을 운영하는 일차 알루미늄 제련소는 전해 작업장과 가스 처리 센터 배기구의 비산 HF 데이터를 연속적으로 확보해야 하지만, 실험실 회송 측정 방식으로는 작업자가 양극 효과에 따른 HF 변화를 며칠씩 파악하지 못합니다.

시스템 구성

Monel 400 및 PTFE/PFA 접액부와 ZS-SCS-800 가열식 Monel 라이닝 시료 라인을 갖춘 ZS8100-HF TDLAS 네트워크는 포트룸과 가스 처리 센터 검토를 위한 저농도 ppm HF 연속 측정 구조를 제공합니다.

양극 효과 실시간 대응 가스 분석기 4대의 TDLAS 네트워크 · sub-ppm HF 연속 측정
선정 관련 질문

자주 묻는 질문

알루미늄 제련소 FTC/GTC 모니터링에서 예상되는 HF 농도는 얼마이며, ZS8100-HF로 측정할 수 있나요?

포트룸의 비산 HF 농도는 일반적으로 0.05~5 ppm입니다. OSHA PEL은 8시간 TWA 기준 3 ppm이며, EU BREF 저감 목표에 따라 GTC 후단 굴뚝의 HF 농도는 sub-ppm 수준이어야 합니다. ZS8100-HF는 이 범위에 맞게 구성되어 있습니다. 0–10 ppm 범위는 포트룸 비산 모니터링에, 0–50 ppm 범위는 GTC 입구의 농도 상승에, 0–500 ppm 범위는 전해조 시동 및 원료 공급 장애 상황에 대응합니다. 검출 하한 <0.05 ppm은 비산 모니터링에 유용한 수준이라는 의미이며, 미량 분석 성능을 나타내는 값은 아닙니다. 실제 포트룸에서 달성 가능한 값은 광경로 길이, 시료 라인의 청결도 및 바탕 불화물 농도에 따라 달라집니다(HF는 총 불화물과 다릅니다). 규제 보고의 기준은 EPA Method 13A / 13B 또는 ISO 15713에 따른 총 불화물 시료 채취(입자상 및 기체상)입니다. TDLAS는 제어 루프에 입력되는 HF만의 연속 측정값을 제공합니다.

ZS8100-HF는 HCl SKU처럼 Hastelloy C-276을 사용하지 않고 Monel 400 및 PTFE / PFA 접액부를 지정하는 이유는 무엇인가요?

Hastelloy C-276은 몰리브덴 15–16 %를 함유한 Ni-Mo-Cr 합금입니다. 무수 HF와 저수분 HF는 불화물 착물 형성 과정에서 몰리브덴 성분을 공격해 표면에 공식이 생기고, 이후 시료에 몰리브덴이 용출됩니다. 이는 기기의 수명과 시료 무결성 모두에 허용할 수 없는 문제입니다. Monel 400은 반응성 몰리브덴이 없는 Ni-Cu 합금으로, HF 접촉 공정(정유 공장의 알킬화 루프, HF 저장, 반도체 산 에칭 배기)의 업계 기준 재질입니다. 저농도 ppm에서 HF가 맨 금속 표면에 달라붙는 현상은 HCl보다 강하므로 내부 튜브에는 PTFE 또는 PFA를 사용해 벽면 흡착을 줄입니다. HCl은 몰리브덴을 공격하는 반응을 일으키지 않으므로 고온에서 용접성과 강도가 더 중요할 때 ZS8100-HCl은 Hastelloy C-276을 사용합니다. 따라서 HF 및 HCl SKU는 기계적으로 유사해 보여도 시료 경로를 공유할 수 없습니다.

ZS8100-HF로 반도체 산 에칭 증기를 낮은 ppb 농도까지 모니터링할 수 있나요?

반도체 에칭 배기는 습식 스크러버 후단에서 배출되며, 배기구 HF 농도는 일반적으로 1 ppm 미만으로 관리됩니다. 팹의 약정과 현지 배출 허가 조건에 따라 저감 목표가 한 자릿수 ppb 수준에 근접할 수 있습니다. ZS8100-HF는 저농도 ppm 및 비산 모니터링용으로 제시되며, 검출 하한은 <0.05 ppm입니다. 최적화된 가열 경로 구성에서는 TDLAS가 이 범위까지 측정할 수 있지만, 반복성 있는 ppb 성능을 내려면 확장 광경로 광학계, PFA 라이닝 시료 라인, 전용 제로 가스 관리 및 더 긴 평균화 시간이 필요합니다. 이 구성은 기본 카탈로그 사양이 아니라 프로젝트별 엔지니어링 검토를 거치는 조건부 범위입니다. 연속 sub-ppb 감사 측정이 필요한 팹은 일반적으로 TDLAS 제어 루프와 함께 전용 미량 분석기(공동 광자 감쇠 분광법, 이온 이동도 분석 또는 스크러버 취출 시료의 이온 크로마토그래피)를 사용합니다.

HF 흡수선은 왜 ~1.27 μm로 선택하며, 시료 매트릭스 분리에 어떤 영향을 주나요?

HF는 2.4–2.7 μm 기본 밴드에서 가장 강한 회전-진동 구조를 보이며, 1.27 μm 부근에 강한 배음이 있습니다. 통신용 등급 근적외선 다이오드 레이저, InGaAs 검출기 및 광학 부품이 성숙했고 현장 환경에 적합한 내구성을 갖춰 1.27 μm 배음이 업계에서 선호하는 TDLAS 측정 파장대입니다. 2.5 μm 기본 밴드는 선별된 흡수선별 강도가 더 높지만, 플랜트 환경에서 비용이 더 높고 내구성이 낮은 중적외선 레이저와 검출기가 필요합니다. 1.27 μm에서 선택한 HF 흡수선은 H2O 연속 흡수 특징 사이의 골에 있으며, 흡수선 중심을 MHz급 해상도로 가로질러 조정하는 TDLAS는 HF를 인접한 H2O, CO2, SO2 및 HCl 흡수 성분과 구분합니다. 광대역 NDIR 광도계는 수분과 산성 가스가 모두 존재하는 굴뚝 시료 매트릭스에서 측정에 어려움을 겪을 수 있습니다.

장거리 경로 대안인 UV-DOAS는 언제 선택해야 하며, 전기화학식 HF 모니터링은 왜 조건부로 표시되나요?

장거리 개방 경로 삽입, 다지점 평균 측정 또는 대구경 구조로 인해 추출식 시료 채취가 실용적이지 않은 배기가스 덕트 등 장거리 굴뚝 구조에는 UV-DOAS(차등 광흡수 분광법)를 대안으로 지정합니다. UV-DOAS는 장거리 개방 경로 전반의 측정에 더 적합한 대신 TDLAS의 낮은 ppm급 비산 가스 검출 감도를 제공하지 않으므로, 전해조실 비산 가스 측정용이 아닌 굴뚝 구조용 옵션으로 제시됩니다. 전기화학식 HF 센서(ppb 측정 범위)는 알킬화 루프의 단일 지점 안전 경보에 널리 사용되지만, 소모품이 필요하고 드리프트가 발생하기 쉬우며 HCl, Cl2 및 SO2에 대한 교차 감도가 높습니다. 따라서 인명 안전 및 구역 경보용 F&G 업무에는 적합하지만, 기준 방법 공정 측정이나 CEMS 측정에는 적합하지 않습니다. GESHINE은 전기화학식 HF 안전 측정을 조건부 엔지니어링 검토 경로로 분류하여, 애플리케이션 엔지니어링 담당자가 자체 브랜드 카탈로그에 포함하기 전에 적합성을 확인할 수 있도록 합니다.

현장 조건에 맞춰 ZS8100-HF 검토

최종 모델을 선정하기 전에 가스 측정 범위, 시료 온도, 압력, 수분 및 인증 요건을 보내 주세요. 사양을 확인하고 24시간 이내에 견적을 회신하겠습니다.