산업용 추출식 가스 분석기 및 시료 가스 전처리 솔루션 — GESHINE

추출식 가스 분석기는 공정 가스에서 대표 시료를 채취해 분석기가 안정적으로 측정할 수 있는 상태(온도, 습도, 분진, 압력)로 전처리한 뒤 분석기 측정 셀로 보냅니다. 프로브, 가열 시료 라인, 냉각기 또는 가열 측정 셀, 필터, 유량 제어로 구성되는 시료 가스 전처리 라인도 분석기 자체만큼 측정에 중요합니다. 이를 올바르게 설계해야 신뢰할 수 있는 측정값을 얻고 규제 준수 실패를 방지할 수 있습니다.

공정 시료 매트릭스가 직접 광경로에 적합하지 않은 경우(분진, 액적, 부식성 미스트가 많은 경우), 규제 프로토콜이 시료 가스 전처리를 요구하는 경우(US EPA 성능 규격, CEMS용 EN 15267), 전처리된 시료에서만 작동하는 다성분 분석기(FTIR, THC 측정용 가열식 FID)가 필요한 경우, 또는 덕트 구조상 서로 마주 보는 현장 직접 측정식 플랜지를 설치할 수 없는 경우에는 추출식을 선택합니다. 단점은 응답 시간이 길고 설치가 복잡하며 시료 채취 시스템의 운영·유지보수 부담이 커진다는 점입니다. 대신 규제 수준의 신뢰성과 현장 직접 측정식으로 측정할 수 없는 성분을 분석할 수 있는 이점을 얻습니다.

고온 습식 추출식은 프로브 끝에서 분석기 입구까지 시료를 완전히 가열된 상태(일반적으로 180 °C)로 유지해 물을 기체 상태로 보존하고 반응성 성분(HCl, HF, NH₃)이 응축수로 손실되지 않도록 합니다. 이슬점 하강으로 측정값이 손상되는 산성 가스 및 암모니아 측정에는 필수입니다. 저온 건식 추출식은 펠티어식 또는 열전식 냉각기로 시료를 의도적으로 이슬점 아래로 낮춰 수분을 제거하고 분석기에 건조하고 안정적인 가스를 공급합니다. 분석 대상 성분이 물에 의해 손실되지 않고 건식 기준 교정이 표준인 O₂, CO, CO₂, SO₂, NOₓ 측정에 적합합니다. 두 방식 모두 ZS-SCS 제품군으로 지원합니다.

표준 추출식 CEMS 시료 라인은 다음과 같이 구성됩니다. 소결 필터가 장착된 굴뚝 프로브, 가열 시료 라인(고온 습식인 경우) 또는 비가열 라인(저온 건식인 경우), 가열 프로브 박스 또는 냉각기/응축기, 미세 필터, 펌프, 하나 이상의 분석기에 시료를 분배하는 유량 제어 장치, 영점/스팬 교정 인터페이스입니다. GESHINE은 이를 ZS-SCS 제품군으로 공급합니다. 완전 가열 고온 습식 운전에는 ZS-SCS-800, 소형 저온 건식 전처리에는 ZS-SCS-600, 모듈형 굴뚝 설치 프로브 및 필터 어셈블리에는 ZS-SCS-400을 사용합니다. 적합한 조합은 선호도가 아니라 가스 매트릭스와 규제 프로토콜에 따라 결정됩니다.

일반적인 추출식 시료 라인의 지연 시간은 15–60초입니다. 대부분 가열 또는 비가열 시료 라인을 통과하는 시료 이송 시간과 냉각기, 필터, 분석기 측정 셀의 체류 시간에서 발생합니다. 규제 보고, 배출량 평균 산정 및 대부분의 공정 모니터링에는 적합하지만, 연소 트림이나 SCR/SNCR 슬립 피드백처럼 빠른 제어에는 너무 느려 현장 직접 측정식이 대체로 적합합니다. 규제 보고와 빠른 제어가 모두 필요한 경우 플랜트에서는 보통 제어용 현장 직접 측정식 분석기와 보고용 추출식 CEMS를 병렬로 운전합니다.

ZS8600-MG 추출식 멀티패스 TDLAS 분석기는 전처리된 단일 시료 라인에서 최대 12개 성분을 동시에 측정합니다. 소각로 CEMS, 화학 공정 벤트 모니터링 및 연구용 다성분 가스 분석에 적합합니다. EPA Method 25A/25B 및 EN 12619에 따른 가열식 FID 총 탄화수소(THC / NMHC) 측정은 프로젝트별 검토를 통해 제공됩니다. 두 방식 모두 ZS-SCS-800 고온 습식 시료 라인을 사용해 프로브에서 분석기까지 물과 점착성 성분을 보존합니다.